上等的顯微觀察 便捷的顯微操作
選擇合適的型號
舒適且使用方便
BX53M利用精心設計且易于使用的控件讓復雜顯微鏡檢查任務得到簡化。用戶無需進行深入培訓即可充分使用顯微鏡功能。
BX53M簡單、舒適的操作還可通過*大限度減少人為錯誤提高可重復性。
BX53M保留了諸如明場、暗場、偏光和微分干涉等常規(guī)顯微鏡的傳統(tǒng)對比方法。隨著新材料的開發(fā)，與使用標準對比法檢測缺陷相關(guān)的許多難題均可
通過先進顯微鏡技術(shù)解決，從而可以實現(xiàn)更加準確和可靠的檢查。全新照明技術(shù)以及奧林巴斯Stream圖像分析軟件的圖像采集選項為用戶評估樣品和存檔檢測結(jié)果提供更多選擇。
奧林巴斯開發(fā)高品質(zhì)光學器件的悠久歷史令其打造了久經(jīng)驗證的光學品質(zhì)以及具有出色測量精度的顯微鏡。
波前像差控制
六種BX53M推薦配置讓您獲得選擇所需功能的靈活性
通用 專用 條目 基本功能輕松設置 標準 易于使用 多功能升級 上等版 支持諸多上等功能 熒光 非常適合 熒光觀察 紅外線 設計利用紅外觀察檢查集成電路 偏振 專為觀察雙折射特性而設計 LCD彩色濾光片 （透射/ BF） 鐵素體組織 晶粒 （反射/ DF） 線圈銅線 (BF + DF/MIX) IC圖案上的光刻膠 (FL + DF/MIX) 硅層疊IC圖案 （紅外線） 石棉 (POL) 觀察方法 R-BF：明場（反射） T-BF：明場（反射/透射） DF：暗場 DIC：微分干涉/簡易偏光 MIX：MIX FL：熒光 IR：紅外線 POL：極化
通用
基本功能輕松設置
上等版
紅外線
偏振
LCD彩色濾光片
（透射/ BF）
線圈銅線
IC圖案上的光刻膠
硅層疊IC圖案
石棉
MIX觀察
BX53M的MIX觀察技術(shù)將傳統(tǒng)照明方法與暗場照明相結(jié)合。使用MIX-插片時，其環(huán)形LED以定向暗場的方式照射樣品。
其效果與傳統(tǒng)暗場類似，但卻能夠通過選擇LED象限引導光從不同角度照射。
這種定向暗場和明場、熒光或偏光的組合被稱為MIX照明，其特別有助于突出缺陷并區(qū)分凸起表面與凹陷部位。
采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域：HDR
采用先進圖像處理技術(shù)的高動態(tài)范圍(HDR)可在圖像內(nèi)調(diào)整亮度差異，從而減少眩光。
HDR改善了數(shù)字圖像的視覺品質(zhì)，從而有助于生成具有專業(yè)級外觀的報告。
硬幣的即時MIA圖像
輕松移動載物臺獲得全景圖像：即時圖像拼接（MIA）
利用即時多圖像拼接（MIA）功能，現(xiàn)在只需移動手動載物臺上的XY旋鈕即可快捷拼接圖像；
無需使用電動載物臺。奧林巴斯Stream軟件可利用模式識別生成全景圖像，讓用戶獲得比單視野更寬的視場。
常規(guī)或基本測量功能
奧林巴斯Stream的各種測量功能可以讓用戶輕松從圖像中獲取有用數(shù)據(jù)。在進行質(zhì)量控制和檢查時，通常需要在圖像上使用測量功能。
所有級別的奧林巴斯Stream許可證均包含諸如距離、角度、矩形、圓形、橢圓形和多邊形等交互式測量功能。所有測量結(jié)果均可與圖
像文件一同保存，以便后續(xù)存檔。
計數(shù)和測量
材料科學解決方案
3D表面視圖（粗糙度測試樣品） 單視圖和3D輪廓測量
3D樣品測量
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