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適合測量曲面反射率、鍍膜評價(jià)、微小部品的反射率測定系統(tǒng)
USPM-RU III反射儀可**測量當(dāng)前分光儀無法測量的微小、薄樣本的光譜反射率，不會與樣本背面的反射光產(chǎn)生干涉。
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USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點(diǎn)：
◆消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系，消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。
◆可測定微小領(lǐng)域的反射率
用對物鏡對焦于小區(qū)域（φ60μm），可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點(diǎn)。
◆測定時(shí)間短
使用Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測定，可迅速實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。
◆XY色度圖、L*a*b測定可能
以分光測定法為基準(zhǔn)，從分光反射率情況可測定物體顏色。
◆可測定的Hard Coat（高強(qiáng)度鍍膜）膜厚
用于涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚（單層膜）。
USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀主要用途：
1、各種透鏡（眼鏡透鏡、光讀取透鏡等）
2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定（單層膜）